Politechnika Wrocławska
O Katedrze
Kadra naukowa
Dorobek naukowy
Laboratoria
Specjalność EAE
Koła Naukowe
Kontakt
KMEIF
Informacje
Studia I
Studia II
Staff
intro

Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej została powołana do życia w marcu 1998 r. W Katedrze rozwijane są: teoria, metody i rozwiązania aplikacyjne pomiarów z wykorzystaniem danych rejestrowanych zarówno w dziedzinie czasu, jak i transformowanych w dziedzinę częstotliwości i czas-częstotliwość. U podstaw działalności naukowej leży modelowanie fizyko-matematyczne zjawisk rzeczywistych oraz algorytmizacja problemu odwrotnego, które w połączeniu z osiągnięciami współczesnej elektroniki i fotoniki pozwalają pozyskiwać informację jakościową i ilościową. Do głównych zadań Katedry należy też kształcenie i rozwijanie zainteresowań wśród studentów specjalności Aparatura Elektroniczna na Wydziale Elektroniki Politechniki Wrocławskiej.


Kształcenie na specjalności Aparatura Elektroniczna jest zorientowane na połączenie teorii i praktyki w projektowaniu, konstrukcji, oprogramowaniu, uruchamianiu, eksploatacji oraz serwisie aparatury elektronicznej wykorzystującej czujniki (elektryczne, optoelektroniczne, biomedyczne, MEMS itp.), mikroprocesory, mikrokontrolery, procesory sygnałowe (DSP), specjalizowane układy elektroniczne (CPLD, FPGA) i współpracującej z systemami komputerowymi. W szczególności studenci zdobywają wiedzę i umiejętności dotyczące: systemów i sterowników mikroprocesorowych (w tym systemów czasu rzeczywistego), zastosowań optoelektroniki i fotoniki w aparaturze elektronicznej, akwizycji i przetwarzania danych empirycznych oraz elektronicznych komponentów inteligentnego środowiska, z uwzględnieniem szerokich umiejętności informatycznych. Absolwenci specjalności są przygotowani zarówno do działań kreatywnych (projektanci, konsultanci) i menadżerskich (organizatorzy pracy) jak i obsługi i serwisu aparatury elektronicznej o zastosowaniach powszechnego użytku, medycznych i przemysłowych.


LabView Academy

Na studiach II stopnia specjalności Aparatura Elektroniczna, na podstawie umowy zawartej z firmą National Instruments, od roku akademickiego 2011/12 prowadzone są zajęcia w ramach programu LabVIEW Academy, przygotowującego studentów do egzaminu umożliwiającego uzyskanie certyfikatu Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD).

Środa
22.10.2014r.
Imieniny
Pogoda

Gości online:1
(Zobacz listę)

Ogółem gości: 580338
od dnia 11.05.2010

Valid XHTML 1.0 Transitional


 

© Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej. Wszelkie prawa zastrzeżone, 2009-2014.
KMEiF, ul. Bolesława Prusa 53/55, 50-317 Wrocław, tel. +48 71 320 62 32, fax. +48 71 321 42 77
wykonał Bartosz Majdański w ramach pracy dyplomowej pod kierunkiem prof. Janusza Mroczki